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绝缘层上覆硅的制作方法及绝缘层上覆硅的结构

摘要

本发明提供了一种绝缘层上覆硅的制作方法,该方法包括步骤:于基材上形成多个沟槽;于这些沟槽的内侧表面以及内底表面形成氧化层;于该氧化层上形成氮化层;移除各沟槽的内底表面的所述氮化层以及氧化层;使用阳极处理使部分基材形成多孔硅层;旋转涂布介电质填满该些沟槽,该介电质覆盖于所述多孔硅层上;以及使用加热工艺使多孔硅层形成绝缘层。本发明同时提供一种按照上述方法制作得到的绝缘层上覆硅的结构。利用本发明的方法制作绝缘层上覆硅的结构,可降低成本,且制作过程快速,使生产率上升。

著录项

  • 公开/公告号CN101459052A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 茂德科技股份有限公司;

    申请/专利号CN200710196836.3

  • 发明设计人 吴孝哲;李名言;蔡文立;

    申请日2007-12-11

  • 分类号H01L21/00;H01L21/762;H01L21/84;H01L21/31;

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄健

  • 地址 台湾省新竹科学工业园区

  • 入库时间 2023-12-17 22:06:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-11-07

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/00 申请公布日:20090617 申请日:20071211

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-08-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-06-17

    公开

    公开

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