公开/公告号CN101459052A
专利类型发明专利
公开/公告日2009-06-17
原文格式PDF
申请/专利权人 茂德科技股份有限公司;
申请/专利号CN200710196836.3
申请日2007-12-11
分类号H01L21/00;H01L21/762;H01L21/84;H01L21/31;
代理机构北京三友知识产权代理有限公司;
代理人黄健
地址 台湾省新竹科学工业园区
入库时间 2023-12-17 22:06:15
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-11-07
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/00 申请公布日:20090617 申请日:20071211
发明专利申请公布后的视为撤回
2009-08-12
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-06-17
公开
公开
机译: 多晶硅:硅CMP处理高密度DRAM存储器单元结构-包括沉积第一和第二绝缘层,第一和第二多晶硅:第三绝缘层,去除多余的第二多晶硅:和第三绝缘层,形成电介质并沉积第三多晶硅:硅
机译: 具有单个晶体CZ硅器件层且绝缘层结构无硅点缺陷的绝缘体结构上的硅
机译: 用于在印刷电路板上形成绝缘中间层的树脂复合材料,树脂箔和铜箔以及用于制造树脂的绝缘层,该绝缘层使用树脂和铜包覆的层压板