半导体装置、半导体测试装置和半导体装置的测试方法

摘要

提供一种半导体装置、半导体试验测试装置和半导体装置的试验测试方法，解决了在具备多个DAC的半导体集成电路的合格品判别的测试中，存在测试时间因DAC的数目的增加或高解像度化而变长这样的问题。在测试两个DAC、即DAC1和DAC2的情况下，控制部(170)通过交替地增加DAC1和DAC2的数字输入值，被输入DAC1和DAC2的模拟输出值的比较部1的输出在“0”和“1”之间重复倒相。因在判断部(180)中判断上述比较部1的输出模式是否与期待值一致，所以可进行DAC的合格品判别。