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避免基板翘曲引起的焊接缺陷的半导体封装接合构造

摘要

本发明是有关一种半导体封装接合构造,特别是一种避免基板翘曲引起的焊接缺陷的半导体封装接合构造,主要包含至少一半导体封装件、一封装载体以及焊料。利用焊料焊接半导体封装件的外接端子至封装载体。依照距离基板中心线的不同,半导体封装件的外接端子至少区分为两群组。在一实施例中,不同群组的外接端子包含不等高凸块,用以补偿基板预定翘曲度所引起的该些外接端子与封装载体的连接端点之间焊料间隙差异,在可预测基板翘曲度的情况下不会有焊接缺陷。在另一实施例中,可在较大焊料间隙之间介设一补偿凸块。本发明可缩小在可预知的基板翘曲度下所引起焊料间隙差异,能避免因基板翘曲引起的焊接缺陷发生;本发明还能兼具有散热性与微间隔维持的功效。

著录项

  • 公开/公告号CN101339942A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 力成科技股份有限公司;

    申请/专利号CN200710127259.2

  • 发明设计人 范文正;

    申请日2007-07-03

  • 分类号H01L25/00;H01L25/065;H01L23/488;

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 中国台湾新竹县

  • 入库时间 2023-12-17 21:19:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L25/00 公开日:20090107 申请日:20070703

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-02-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-07

    公开

    公开

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