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掩模版图、掩模版制造方法和掩模版图校正方法

摘要

一种掩模版图、掩模版制造方法和掩模版图校正方法,其中,所述掩模版图包括用于根据曝光显影工艺以形成产品图形的设计图形,还包括:辅助图形,具有不超过曝光分辨率的尺寸,并且在曝光之后形成对所述设计图形的曝光损失进行补偿的区域。本发明通过设置辅助图形,有效地对所述设计图形的曝光失真进行补偿,从而使所获得的产品的关键尺寸愈加接近于期望尺寸,并节约了大量进行比较和调试的时间和精力,提高了生产效率,节约了生产成本。

著录项

  • 公开/公告号CN102096308B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-10-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200910201194.0

  • 发明设计人 朴世镇;

    申请日2009-12-15

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人李丽

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-12-05

    专利权的转移 IPC(主分类):G03F 1/36 变更前: 变更后: 登记生效日:20121102 申请日:20091215

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-10-31

    授权

    授权

  • 2011-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 1/14 申请日:20091215

    实质审查的生效

  • 2011-06-15

    公开

    公开

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