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减小激光直写光刻点或线宽的薄膜结构及其制备方法

摘要

一种减小激光直写光刻点或线宽的薄膜结构及其制备方法,该薄膜结构包括无机相变薄膜层和缓冲层,所述的无机相变薄膜层由AgInSbTe或GeSbTe或SbTe构成,所述的缓冲层由热导率高的金属或半导体材料构成。该薄膜结构采用直流磁控溅射法制备,本发明薄膜结构具有膜层结构简单、工艺易控制和基片要求低等优点。试验证明可以明显减小激光直写光刻点和线宽的尺寸。

著录项

  • 公开/公告号CN101101451A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-01-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200710043931.X

  • 发明设计人 焦新兵;魏劲松;干福熹;

    申请日2007-07-18

  • 分类号G03F7/20(20060101);G03F7/00(20060101);B23K26/00(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2023-12-17 19:32:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-08-26

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-02-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-09

    公开

    公开

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