退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN101007396A
专利类型发明专利
公开/公告日2007-08-01
原文格式PDF
申请/专利权人 联华电子股份有限公司;
申请/专利号CN200610006061.4
发明设计人 曾佑祥;施继雄;周梅生;于劲;邹峥;周文湛;
申请日2006-01-24
分类号B24D13/00(20060101);B24B29/00(20060101);H01L21/304(20060101);
代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;
代理人陶凤波;侯宇
地址 中国台湾新竹科学工业园区
入库时间 2023-12-17 18:54:43
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2009-08-12
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-09-26
实质审查的生效
2007-08-01
公开
机译: 用于消除边缘效应的化学机械抛光头的柔性膜的制造方法以及由此制造的化学机械抛光头的柔性膜
机译: 化学机械抛光装置中的抛光头及包括该抛光头的化学机械抛光装置
机译: 用于制造半导体器件的化学机械抛光设备的抛光头和具有该抛光头的化学机械抛光设备
机译:考虑工艺参数相互作用影响的实验设计(DOE)方法,用于优化铜化学机械抛光(CMP)工艺
机译:最终浇口工艺的化学机械抛光(CMP)方法已获专利
机译:化学机械抛光过程中材料去除率的摩擦学方法N6Hong Jin Kim 三星电子半导体研发部门工艺开发团队,韩国京畿道华城市San#16 Banwol-Dong 445-701
机译:化学机械抛光头压力控制的进展
机译:硒化锌化学机械抛光工艺的研究。
机译:不锈钢304(SS304)流化床化学机械抛光(FB-CMP)工艺初步研究(SS304)
机译:开发用于超过厘米距离的纳米地形的空间分辨测量方法(应用于化学机械抛光)
机译:制造方法和技术研究涵盖自动化制造工艺应用于电缆连接器的方法。第1卷