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应用于化学机械抛光工艺的抛光头及化学机械抛光方法

摘要

一种应用于化学机械抛光(CMP)工艺的抛光头,包括:一壳体;一晶片边缘压覆环,锁固于该壳体的一下方位置;一支撑背板,其具有多个呈非同心圆状(non-concentric)排列的压力区(pressure zone),且该支撑背板具有一晶片接触面以及一非晶片接触面,其中进行一CMP抛光时,该支撑背板的该晶片接触面是抵靠住一晶片背面;以及一气动装置,用来在进行该CMP抛光时独立控制个别该多个呈非同心圆状排列压力区内施加在该晶片背面的下压力。

著录项

  • 公开/公告号CN101007396A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-08-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联华电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200610006061.4

  • 申请日2006-01-24

  • 分类号B24D13/00(20060101);B24B29/00(20060101);H01L21/304(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波;侯宇

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区

  • 入库时间 2023-12-17 18:54:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-08-12

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-09-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-08-01

    公开

    公开

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