法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-07-20
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C14/28 授权公告日:20080423 终止日期:20150526 申请日:20060526
专利权的终止
2013-11-13
专利权的转移 IPC(主分类):C23C14/28 变更前: 变更后: 登记生效日:20131022 申请日:20060526
专利申请权、专利权的转移
2008-04-23
授权
授权
2007-01-24
实质审查的生效
实质审查的生效
2006-11-29
公开
公开
技术领域
本发明属功能薄膜技术领域。
背景技术
自从1993年,人们在La-Ba-Mn-O中发现巨大的磁电阻效应以来,La基锰氧化物La1-xAxMnO3(A=Ca,Ba,Sr)得到了广泛的研究。这类材料的一个显著特点是随温度降低在居里温度TP发生顺磁到铁磁的相变,同时伴随着从绝缘体到金属的相变。这一特性可用于研制探测光热辐射等的传感元件,如测辐射热仪(Bolometer)。
测辐射热仪,就是根据感受到的外界光、热辐射变化(热、辐射)所导致的敏感元件的微小温度变化来改变器件输出的某种电信号,如电阻。此类探测器实际上是扩展了人眼的视觉范围,尤其在红外、远红外电磁辐射探测方面更为突出。基于此类探测器的红外探测系统、夜视系统、安保监控系统和电子对抗系统在军事国防上有着重要的应用;热成像系统、生物医学影像、天文学、遇难营救、森林防火以及环境探测等在工商业领域也有着广泛的应用。近年来,工业、农业、民用和国防建设等方面对这类探测器的需求日益增多,因而研制灵敏度高且价格低廉的新型材料成为当前研究的热点。目前国际上用于室温条件下测量测辐射热仪采用电阻温度系数(TCR)大的材料,如VxOy、热释电材料等。VxOy虽然可工作于室温,但TCR值较小,一般仅为2~4%;热释电材料虽然响应速度较快,但却是以降低灵敏度为代价的。目前,灵敏度最好的测辐射热仪是超导测辐射热仪(superconducting bolometer),但是由于超导材料转变温度的限制,使其必须配备昂贵的低温系统,从而使生产成本大大提高。镧钡锰氧薄膜(La1-xBaxMnO3,x=0.33)由于具有较高的温度电阻系数TCR=1/R·dR/dT,且温度范围接近室温,因而在测辐射热仪的研发方面具有很大优势。
镧钡锰氧薄膜属于多元素化合物薄膜,通常采用脉冲激光沉积(PulsedLaser Depositon,PLD)的薄膜制备技术来确保这一体系的薄膜材料与其体材成分一致。然而,PLD技术制备的La1-xBaxMnO3薄膜,TCR一般为4%左右,而利用传统的高温退火处理不但时间长,而且对于提高LBMO薄膜的TCR值效果不明显。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中的不足而提供一种高效,快速提高镧钡锰氧薄膜性能的方法。
一种激光辐照提高镧钡锰氧薄膜性能的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)将清洗干净的基片,进行干燥后置于真空室内的硅板加热器上;将真空室抽至5×10-4~5×10-5Pa后,硅板加热器升温至700℃~850℃,且真空室内真空保持在5×10-4Pa~2×10-4Pa;向真空室内充入氧气,使真空室内的流动氧压保持在5~80Pa;利用准分子激光轰击La0.67Ba0.33MnO3靶材;薄膜沉积结束后,硅板在1小时内降至室温;
2)激光辐照:将制备的薄膜置于旋转平台上,平台以10°~60°/S的转速旋转,在60-240秒之内将激光功率密度逐渐调节到35~60W/cm2,功率密度保持10~120秒后,在60~300秒之内将激光功率密度逐渐降至零。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:(1)激光辐照大大提高了薄膜的性能。激光辐照后,La0.67Ba0.33MnO3薄膜的转变温度从324K提高到了340K,TCR值提高到了8.8%K-1(307K),(2)激光辐照时间极短,使生产成本降低,生产效率提高,有利于工业化生产;(3)激光辐照后,La0.67Ba0.33MnO3薄膜表面粗糙度降低,表面更加平滑。
附图说明:
图1是本发明按实施例1获得的La0.67Ba0.33MnO3薄膜的电阻-温度关系曲线;
图2是本发明按实施例2所制La0.67Ba0.33MnO3薄膜的温度电阻系数-温度关系曲线;
图3是本发明按实施例3制备的La0.67Ba0.33MnO3薄膜的原子力显微镜图:a未激光辐照薄膜的二维平面图;b未激光辐照薄膜的三维立体图;c激光辐照薄膜的二维平面图;d激光辐照薄膜的三维立体图。
另注:附图1和2中均有使用传统PLD方法制备薄膜和经传统高温退火处理后薄膜的相应对照图例。
具体实施方式:
下面结合实施例进一步详细说明:
实施例1:
(1)清洗基片:①依次用丙酮、无水乙醇超声清洗基片;②超声清洗完后,再用去离子水反复冲洗,干燥后,将基片置于硅板加热器上;
(2)系统抽真空及硅板加热:将真空室真空抽至5×10-5Pa,然后加热硅板,边抽真空边加热,使硅板温度升至700℃并使真空室内压强保持在2×10-4Pa;
(3)薄膜沉积:当硅板温度达到700℃且真空室内压强为2×10-4Pa后,向真空室充入氧气,使真空室保持5Pa的流动氧分压,待系统稳定后,准分子激光轰击La0.67Ba0.33MnO3多晶靶材;
(4)降温:沉积结束后,硅板在1小时内降至室温。
(5)激光辐照退火:将制备的薄膜置于旋转平台之上,利用额定功率为150W的CO2激光器进行辐照。设定旋转平台的转速为10°/S,在60秒内将激光功率密度从0调节到35W/cm2,然后保持120秒,最后将激光功率密度在180秒内降为零。
请参阅图1所示,为按实施例1制备的镧钡锰氧薄膜(La0.67Ba0.33MnO3)薄膜的温度电阻关系曲线;从图中可以看出,经激光辐照后,LBMO薄膜的转变温度TP从324K提高到了340K,与经过传统的高温长时间退火工艺获得的TP相同,所用时间却极大的减少。
实施例2:
(1)清洗基片:①依次用丙酮、无水乙醇超声清洗基片;②超声清洗完后,再用去离子水反复冲洗,干燥后,将基片置于硅板加热器上;
(2)系统抽真空及硅板加热:将真空室真空抽至5×10-4Pa,然后加热硅板,边抽真空边加热,使硅板温度升至750℃并使真空室内压强保持在5×10-4Pa;
(3)薄膜沉积:当硅板温度达到750℃且真空室内压强为5×10-4Pa后,向真空室充入氧气,使真空室保持30Pa的流动氧分压,待系统稳定后,用准分子激光轰击La0.67Ba0.33MnO3多晶靶材;
(4)降温:沉积结束后,硅板在1小时内降至室温。
(5)激光辐照退火:将制备的薄膜置于旋转平台之上,利用额定功率为150W的CO2激光器进行辐照。设定旋转平台的转速为40°/S,在180秒内将激光功率密度从0调节到50W/cm2,然后保持80秒,最后将激光功率密度在60秒内降为零。
请参阅图2所示,为按实施例2制备的镧钡锰氧薄膜的温度电阻系数一温度关系曲线;从图中可以看出,利用传统的高温长时间退火工艺,LBMO薄膜的TCR值提高并不显著,而经过激光辐以后,LBMO薄膜的TCR提高了两倍多,从3.5%K-1提高到了8.8%K-1,且温度范围接近室温。
实施例3:
(1)清洗基片:①依次用丙酮、无水乙醇超声清洗基片;②超声清洗完后,再用去离子水反复冲洗,干燥后,将基片置于硅板加热器上;
(2)系统抽真空及硅板加热:将真空室真空抽至3x10-4Pa,然后加热硅板,边抽真空边加热,使硅板温度升至850℃并使真空室内压强保持在3×10-4Pa;
(3)薄膜沉积:当硅板温度达到850℃且真空室内压强为3×10-4Pa后,向真空室充入氧气,使真空室保持80Pa的流动氧分压,待系统稳定后,用准分子激光轰击La0.67Ba0.33MnO3多晶靶材;
(4)降温:沉积结束后,硅板在1小时内降至室温。
(5)激光辐照退火:将制备的薄膜置于旋转平台之上,利用额定功率为150W的CO2激光器进行辐照。设定旋转平台的转速为60°/S,在240秒内将激光功率从0调节到60W/cm2,然后保持10秒,最后将激光功率密度在300秒内降为零。
请参阅图3所示,为按实施例3制备的La0.67Ba0.33MnO3薄膜的原子力显微镜图。利用传统PLD技术,Ra=3.169nm;RP-V=39.41nm;Rms=4.396nm;激光辐照后,Ra=1.650nm;RP-V=13.66nm;Rms=2.079nm。其中,Ra和Rms是利用两种不同算法计算得到的表征薄膜表面粗糙度的参数;Rp-v表征薄膜表面峰-谷之间的距离。
机译: 使用小分子和高分子有机半导体混合物制造薄膜晶体管的方法以及由其制造的有机薄膜晶体管,通过最大程度地提高小分子有机晶体的尺寸可以提高性能
机译: 使用能提高薄膜的电性能和沉积性能可靠性的源喷射器形成原子层沉积设备的薄膜的方法
机译: 酸洗提高钡锶铁氧体载体颗粒性能的方法