用于存储存储单元的故障地址的存储装置和方法

摘要

本发明的实施例针对使用可分类的故障计数/故障地址寄存器的存储芯片的自修复模式。本发明的实施例通过扫描存储器阵列以便定位具有最高缺陷数目的n个元件(WL或CSL)来有效地利用可用的冗余。优选地是，一种电路包括一个或多个比较器，用于把输入寄存器中地址的故障计数与在可分类的故障计数/故障地址寄存器中所存储的至少一个故障计数相比较。本发明的实施例可以用于芯片内冗余计算并且可以处理二维(即行和列)冗余。