首页> 中国专利> 高电子迁移率氢化纳米硅薄膜的制备方法

高电子迁移率氢化纳米硅薄膜的制备方法

摘要

一种半导体材料领域的高电子迁移率氢化纳米硅薄膜的制备方法。本发明用等离子增强化学气相沉积方法生长氢化纳米硅薄膜,采用硅烷和氢气为生长源气体,单晶硅材料作为衬底,利用单晶硅衬底的晶格匹配和有序结构诱导的作用,生长出高密度的纳米硅晶粒薄膜,并且其晶界厚度非常狭窄,为2-4个原子层,进一步通过改变磷烷掺杂比例,得到导电性能可控的高电子迁移率氢化纳米硅薄膜。本发明制备的薄膜中的电子迁移率可以高达102cm2/Vs量级,而且可以通过控制生长条件在很大范围内改变薄膜的电学输运性能,可以方便地调节薄膜的电子浓度、迁移率和电导率,适应半导体器件多方面的需要,另外还具有同目前成熟的硅工艺相结合的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN1737997A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN200510027929.4

  • 申请日2005-07-21

  • 分类号H01L21/205(20060101);C23C16/44(20060101);C23C16/24(20060101);

  • 代理机构31201 上海交达专利事务所;

  • 代理人王锡麟;王桂忠

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2023-12-17 16:59:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/205 授权公告日:20080924 终止日期:20140721 申请日:20050721

    专利权的终止

  • 2008-09-24

    授权

    授权

  • 2006-04-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-02-22

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号