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易挥发主体中的微量杂质的光谱分析法

摘要

一种易挥发主体中微量杂质的光谱分析法,该方法包括下述步骤:(1)用纯碳粉加入所要测的目标杂质的氧化物,配制不同目标杂质含量的碳标样;(2)样品与纯碳粉及步骤(1)所得到的碳标样分别按重量比例1∶1混匀,装入电极穴,压紧待摄谱;(3)进行光谱分析;(4)进行直线拉直法,求出增量值,即为样品中杂质含量;或者,通过公式C

著录项

  • 公开/公告号CN1721837A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京有色金属研究总院;

    申请/专利号CN200410069321.3

  • 发明设计人 钱伯仁;潘元海;王长华;

    申请日2004-07-16

  • 分类号G01N21/27;G01N1/28;

  • 代理机构北京北新智诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人程凤儒

  • 地址 100088 北京市新街口外大街2号

  • 入库时间 2023-12-17 16:55:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-30

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/27 公开日:20060118 申请日:20040716

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2006-03-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-01-18

    公开

    公开

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