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一种用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法

摘要

本发明涉及一种用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜化学成分的方法,技术方案是:熔剂和试样的比例为8:1.5,用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔制成玻璃片后,直接用X射线荧光光谱分析仪扫描,测定镍、铬、铜的强度,根据强度与含量确定线性关系,然后根据镍、铬、铜的强度,计算其中镍、铬、铜的含量。本发明的积极效果是:在测定钙、镁、硅、铝、钛、锰、磷等元素的同时测定镍、铬、铜的含量,准确度和精密度均优于传统的化学分析方法;具有科学性、先进性、适用性、可推广性,分析时间短、准确度高、重复性好、无污染等特点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-03-25

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N23/223 申请公布日:20130130 申请日:20110726

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-03-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20110726

    实质审查的生效

  • 2013-01-30

    公开

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