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公开/公告号CN1691310A
专利类型发明专利
公开/公告日2005-11-02
原文格式PDF
申请/专利权人 旺宏电子股份有限公司;
申请/专利号CN200510067809.7
发明设计人 吕函庭;施彦豪;谢光宇;李明修;吴昭谊;徐子轩;
申请日2005-04-26
分类号H01L21/82;
代理机构11019 北京中原华和知识产权代理有限责任公司;
代理人寿宁;张华辉
地址 中国台湾
入库时间 2023-12-17 16:42:25
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2009-01-07
授权
2005-12-28
实质审查的生效
2005-11-02
公开
机译: 包含门介电电荷陷阱的挥发性记忆体及其制造方法
机译: 非挥发性记忆体测定装置,非挥发性记忆体测定装置的控制方法以及车载装置
机译: 有机-无机纳米非挥发性记忆体电容器,有机-无机纳米非挥发性记忆体晶体管及其制备方法
机译:功能性石墨烯纳米片上的非破坏性ALD阻挡氧化层作为非挥发性记忆体
机译:用于有机非挥发性记忆体的相分离铁电/半导体聚合物共混物的结构
机译:通过位移电流测量对具有前景的半导体和不同接触金属的有机场效应器件中的电荷陷阱进行全面研究
机译:纳米晶氧化钌在非挥发性记忆体掺锆的氧化Ha高k膜中的嵌入
机译:离子陷阱小型化考虑因素:两板线性离子阱中圆柱离子阱中的空间电荷效应和错位效应
机译:表面辅助瞬态位移电荷技术。 I.自组装单分子层中的光诱导电荷转移
机译:弱氢键C-H - 供体和C-H - 阴离子相互作用在控制有机供体BEDT-TTF和BEDO-TTF及其电荷转移盐的结构性质中的重要性。