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晶圆级封装方法及由该方法所封装出来的半导体晶片封装体

摘要

一种晶圆级封装方法及半导体晶片封装体,该晶圆级封装方法包含如下的步骤:提供一具有数个焊垫的半导体晶圆,于该晶圆的表面上形成绝缘层,该绝缘层具有数个暴露对应焊垫的导电体形成孔;施加一层导电胶到该绝缘层上使该导电体形成孔被填注导电胶,藉此形成数个从对应的焊垫延伸到该晶圆的表面的导电体;移去覆盖在该绝缘层上的导电胶;形成一保护层于该绝缘层上,该保护层具有数个用于暴露对应的导电胶的暴露孔;及于每一个暴露孔内形成一与导电胶电气连接且凸伸在暴露孔外的导电球。本发明的晶圆级封装方法,可解决因晶圆的焊垫之间的间距太小而无法以导电胶形成导电体的问题;导电体可以方便地与外部电路的电气连接。

著录项

  • 公开/公告号CN1665007A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沈育浓;

    申请/专利号CN200410007435.5

  • 发明设计人 沈育浓;

    申请日2004-03-03

  • 分类号H01L21/60;H01L21/28;H01L23/48;

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人李树明

  • 地址 台湾省台北市

  • 入库时间 2023-12-17 16:29:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-12-10

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-11-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-09-07

    公开

    公开

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