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一种采用不合格品作为破坏性物理分析质量评价的方法

摘要

本发明公开了一种采用不合格品作为破坏性物理分析质量评估的方法,该方法在确定可采用二次筛选不合格品为DPA样品上,进行一系列的非破坏性和破坏性试验项目,经分析判断,得到采用不合格品进行的DPA试验与采用合格品的DPA试验相同的DPA结论。该方法的步骤包括有:第一步:分析二次筛选不合格的DPA样品的不合格项目;第二步:进行DPA分析,与标准比照,得出各项DPA试验结论;第三步:分析各试验结论是否与样品为二次筛选不合格有关,并得出DPA总结论。在本发明中,虽然破坏性物理分析选取的被测对象是不合格品,但是不影响该不合格品对其他相关性能的检测。采用这种质量评估的方法在保证不影响DPA结论的基础上降低了破坏性物理分析的成本。

著录项

  • 公开/公告号CN1651915A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN200510056871.6

  • 申请日2005-03-28

  • 分类号G01N33/00;G01N35/00;G01M19/00;G01D21/02;

  • 代理机构北京永创新实专利事务所;

  • 代理人周长琪

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-12-17 16:21:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-04-18

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-10-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-08-10

    公开

    公开

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