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张磊; 王旭;
中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心,北京100029;
微组装元器件; 破坏性物理分析; 定制开发;
机译:使用μ子梁的非破坏性同位素分析方法的开发及其在铅分析中的应用
机译:负μ子照射后伽马射线排放测量的非破坏性同位素分析方法的开发
机译:利用基本参数法,EDXRF开发PM_(2.5)的非破坏性多元素同时分析方法
机译:应用于非破坏性物理分析方法的应用X射线CT成像
机译:新的NIOSH头模:开发新颖的方法来制造更逼真的物理头模和定制面罩,并评估现有的商用呼吸器
机译:跨文化环境中破坏性行为问题评估工具的开发过程:破坏性行为国际量表–尼泊尔版(DBIS-N)
机译:开发用于城市建筑遗产保护诊断的原位非破坏性分析方法
机译:一些最近开发的化学和物理分析方法
机译:非破坏性结构分析装置,非破坏性结构检测装置和非破坏性结构分析方法
机译:破坏性评估分析仪,破坏性评估分析系统和破坏性评估分析方法
机译:破坏性行为分析方法,破坏性行为分析器,破坏性行为分析程序和模具设计方法
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