一种电子元器件制造用破坏性物理分析的样品座

摘要

本实用新型提供一种电子元器件制造用破坏性物理分析的样品座，包括移动板、弧板、移动杆、固定架、螺杆、固定块、限位杆、拉杆、磁块以及滑槽，移动板左端安装弧板，移动板右端安装移动杆，移动杆左端穿过移动板与弧板相连接，移动板右端安装固定架，固定架右端装配螺杆，螺杆左端穿过固定架与移动杆相连接，该设计方便固定样品，滑槽内部装配磁块，移动板前端安装固定块，固定块上端安装拉杆，拉杆下端穿过固定块与磁块相连接，固定块前端安装限位杆，该设计方便调节移动板以及固定板之间的间距，本实用新型使用方便，便于操作，固定效果好，方便清理残渣。