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控制存储器电阻性质的氧含量系统及方法

摘要

提供了一种存储单元以及用来控制存储材料的电阻性质的方法。此方法包含:形成亚锰酸盐;在氧气氛中对亚锰酸盐进行退火;响应于退火而控制亚锰酸盐中的氧含量;以及响应于氧含量而控制通过亚锰酸盐的电阻。此亚锰酸盐是通式为RE1-xAExMnOy的钙钛矿型氧化锰,其中,RE是稀土离子,AE是碱土离子,x为0.1-0.5。对亚锰酸盐中的氧含量的控制包括形成y大于3的富氧RE1-xAExMnOy区。在富氧的亚锰酸盐区中得到了低的电阻。当y小于3时,形成了高电阻。更具体地说,此工艺形成了邻接贫氧高阻亚锰酸盐区的低阻富氧亚锰酸盐区。

著录项

  • 公开/公告号CN1574215A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-02-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 夏普株式会社;

    申请/专利号CN200410045717.4

  • 发明设计人 许胜籐;张风燕;

    申请日2004-05-21

  • 分类号H01L21/02;H01L21/70;

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张雪梅;叶恺东

  • 地址 日本大阪市

  • 入库时间 2023-12-17 15:47:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-07-29

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2005-04-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-02-02

    公开

    公开

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