存储单元阵列中失效存储单元的实际位置的自动判定与显示

摘要

一种计算机系统(300)，其根据测试站产生的失效存储单元标号信息而自动判定与显示存储器IC(集成电路)电路小片放大图像上的存储单元阵列中失效的存储单元的实际位置。标号信息包含任何区段标号、I/O标号、列标号、与行标号的组合。存储器IC电路小片包含多个区段，且区段标号对应于其中具有失效存储单元的区段。区段包含多个I/O(输入/输出)区域，其中I/O标号指定在具有区段标号的区段内、其中具有失效存储单元的I/O区域。I/O区域包含多个水平传导结构与垂直传导结构。列标号指定连接至失效存储单元的垂直传导结构，且行标号指定连接至失效存储单元的水平传导结构，其中I/O区域具有I/O标号。计算机系统(300)接收标号信息并在计算机系统(300)的GUI(图形用户界面)(310)上自动判定与显示存储器IC电路小片的第一放大图像与对应于被突出显示的区段标号的区段、和/或对应于区段标号的区段的第二放大图像与对应于被突出显示的I/O标号的I/O区域、和/或对应于I/O标号的I/O区域的第三放大图像与对应于被突出显示的列标号的垂直传导结构和/或对应于行标号的水平传导结构的任何组合。