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Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian

召开年：1996
召开地：Hsinchu
出版时间：-

会议文集：-

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1.Proceedings of the Fifth Asian Test Symposium (ATS'96)

机译：第五届亚洲考试研讨会论文集（ATS'96）
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
2.Circuit partitioned automatic test pattern generation constrained by three-state buses and restrictors

机译：受三态总线和限流器约束的电路分区自动测试模式生成
- 作者：van der Linden;J.T.;Konijnenburg;M.H.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
3.Yield improvement by test error cancellation

机译：通过消除测试错误来提高产量
- 作者：Mill-Jer Wang;Yen-Shung Chang;Chen J.E.;Yung-Yuan Chen;Shaw-Cherng Shyu
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
4.Algorithmic test generation for supply current testing of TTL combinational circuits

机译：用于TTL组合电路的电源电流测试的算法测试生成
- 作者：Kuchii;T.;Hashizume;M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
5.An approach to the synthesis of synchronizable finite state machines with partial scan

机译：一种带有部分扫描的可同步有限状态机综合方法
- 作者：Inoue;T.;Masuzawa;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
6.An efficient compact test generator for I/sub DDQ/ testing

机译：用于I / sub DDQ /测试的高效紧凑型测试生成器
- 作者：Kondo;H.;Kwang-Ting Cheng
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
7.An efficient PRPG strategy by utilizing essential faults

机译：利用基本故障的有效PRPG策略
- 作者：Li-Ren Huang;Jing-Yang Jou;Sy-Yen Kuo
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
8.An MISR computation algorithm for fast signature simulation

机译：快速签名仿真的MISR计算算法
- 作者：Bin-Hong Lin;Shao-Hui Shieh;Cheng-Wen Wu
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
9.BIST testability enhancement of system-level circuits: experience with an industrial design

机译：提高系统级电路的BIST可测试性：具有工业设计经验
- 作者：Kowen Lai;Papachristou;C.A.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
10.Combination of automatic test pattern generation and built-in intermediate voltage sensing for detecting CMOS bridging faults

机译：自动测试图案生成与内置中间电压检测相结合，可检测CMOS桥接故障
- 作者：Kuen-Jong Lee;Jing-Jou Tang
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
11.Comparison diagnosis in large multiprocessor systems

机译：大型多处理器系统中的比较诊断
- 作者：Fuhrman C.P.;Nussbaumer H.J.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
12.Concurrent error detection and fault location in a fast ATM switch

机译：并发错误检测和快速ATM交换机中的故障定位
- 作者：Yoon-Hwa Choi;Pong-Gyou Lee
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
13.Constructing an edge-route guaranteed optimal fault-tolerant routing for biconnected graphs

机译：为双连通图构造边缘路由保证最优容错路由
- 作者：Yupin Luo;Shiyuan Yang
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
14.Easily testable data path allocation using input/output registers

机译：使用输入/输出寄存器可轻松测试数据路径分配
- 作者：Li-Ren Huang;Jing-Yang Jou;Sy-Yen Kuo;Wen-Bin Liao
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
15.Efficient multifrequency analysis of fault diagnosis in analog circuits based on large change sensitivity computation

机译：基于大变化灵敏度计算的模拟电路故障诊断的高效多频分析
- 作者：Tao Wei;Wong;M.W.T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
16.Hierarchical testing using the IEEE Std 1149.5 module test and maintenance slave interface module

机译：使用IEEE Std 1149.5模块测试和维护从属接口模块进行分层测试
- 作者：Jin-Hua Hong;Chung-Hung Tsai
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
17.Hybrid pin control using boundary-scan and its applications

机译：使用边界扫描的混合引脚控制及其应用
- 作者：Ke W.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
18.Invalid state identification for sequential circuit test generation

机译：无效的状态识别，无法进行顺序电路测试
- 作者：Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee;Chen J.E.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
19.Lessons learned from practical applications of BIST/B-S technology

机译：从BIST / B-S技术的实际应用中学到的教训
- 作者：Jarwala N.;Rutkowski P.W.;Shianling Wu;Chi Yau
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
20.Low-complexity fault diagnosis under the multiple observation time testing approach

机译：多重观测时间测试方法下的低复杂度故障诊断
- 作者：Pomeranz;I.;Reddy;S.M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
21.A consistent scan design system for large-scale ASICs

机译：用于大规模ASIC的一致的扫描设计系统
- 作者：Konno Y.;Nakamura K.;Bitoh T.;Saga K.;Yano S.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
22.A design for testability method using RTL partitioning

机译：使用RTL分区的可测性方法设计
- 作者：Hosokawa T.;Kawaguchi K.;Ohta M.;Muraoka M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
23.A new model with time constraints for conformance testing of communication protocols

机译：具有时间限制的新模型用于通信协议的一致性测试
- 作者：Teratani;D.;Kakuda;Y.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
24.A new scheme for the fault diagnosis of multiprocessor systems

机译：多处理器系统故障诊断的新方案
- 作者：Xiaofan Yang;Tinghuai Chen;Zehan Cao;Zhongshi He;Hongqing Cao
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
25.A practical implementation of dynamic testing of an AD converter

机译：AD转换器动态测试的实际实现
- 作者：Yuan Tzu Ting;Li Wei Chao;Wei Chung Chao
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
26.A pragmatic, systematic and flexible synthesis for testability methodology

机译：实用，系统和灵活的可测性方法综合
- 作者：Alves;V.C.;Antunes;A.R.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
27.On current testing of Josephson logic circuits using the 4JL gate family

机译：关于使用4JL门系列的约瑟夫森逻辑电路的当前测试
- 作者：Yamada;T.;Sasaki;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
28.On design of fail-safe cellular arrays

机译：关于故障安全蜂窝阵列的设计
- 作者：Kamiura N.;Hata Y.;Yamato K.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
29.On test generation for interconnected finite-state machines-the input sequence propagation problem

机译：在互连有限状态机的测试生成中-输入序列传播问题
- 作者：Pomeranz;I.;Reddy;S.M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
30.On-line testing in digital neural networks

机译：数字神经网络中的在线测试
- 作者：Demidenko S.;Piuri V.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
31.Partially parallel scan chain for test length reduction by using retiming technique

机译：部分并行扫描链，通过使用重定时技术来缩短测试长度
- 作者：Higami;Y.;Kajihara;S.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
32.Realistic linked memory cell array faults

机译：实际的链接存储单元阵列故障
- 作者：van de Goer A.J.;Gaydadjiev G.N.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
33.Redundancy identification using transitive closure

机译：使用传递闭包的冗余识别
- 作者：Agrawal V.D.;Bushnell M.L.;Qing Lin
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
34.Syndrome simulation and syndrome test for unscanned interconnects

机译：未扫描互连的综合仿真和综合测试
- 作者：Chauchin Su;Shyh-Shen Hwang;Shyh-Jye Jou;Yuan-Tzu Ting
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
35.Test generation of analog switched-current circuits

机译：测试生成模拟开关电流电路
- 作者：Cheng-Ping Wang;Chin-Long Wey
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
36.Testable design and testing of MCMs based on multifrequency scan

机译：基于多频扫描的MCM的可测试设计和测试
- 作者：Wang-Dauh Tseng;Kuochen Wang
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
37.Testing and diagnosis of board interconnects in microprocessor-based systems

机译：基于微处理器的系统中板互连的测试和诊断
- 作者：Po-Ching Hsu;Sying-Jyan Wang
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
38.Two modeling techniques for CMOS circuits to enhance test generation and fault simulation for bridging faults

机译：CMOS电路的两种建模技术可增强测试生成和桥接故障的故障仿真
- 作者：Kuen-Jong Lee;Jing-Jou Tang
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
39.Waveform polynomial manipulation using BDDs

机译：使用BDD的波形多项式处理
- 作者：Zhuxing Zhao;Zhongcheng Li;Yinghua Min
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
40.AND/EXOR-based synthesis of testable KFDD-circuits with small depth

机译：基于AND / EXOR的小深度可测试KFDD电路合成
- 作者：Hengster H.;Drechsler R.;Eckrich S.;Pfeiffer T.;Becker B.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
41.Hierarchical test generation with built-in fault diagnosis

机译：具有内置故障诊断功能的分层测试生成
- 作者：Stroobandt D.;Van Campenhout J.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
42.A test methodology for interconnect structures of LUT-based FPGAs

机译：基于LUT的FPGA互连结构的测试方法
- 作者：Michinishi H.;Yokohira T.;Okamoto T.;Inoue T.;Fujiwara H.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
43.Thermal monitoring of safety-critical integrated systems

机译：对安全至关重要的集成系统的热监控
- 作者：Szekely V.;Rencz M.;Karam J.M.;Lubaszewski M.;Courtois B.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
44.DP-BIST: a built-in self-test for DSP data paths-a low overhead and high fault coverage technique

机译：DP-BIST：针对DSP数据路径的内置自检-低开销和高故障覆盖率技术
- 作者：Adham;S.M.I.;Gupta;S.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
45.E-groups: a new technique for fast backward propagation in system-level test generation

机译：E组：在系统级测试生成中快速向后传播的新技术
- 作者：Nicolaidis;M.;Parekhji;R.A.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
46.Minimal delay test sets for unate gate networks

机译：统一门网络的最小延迟测试集
- 作者：Sparmann U.;Muller H.;Reddy S.M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年
47.Formal verification of self-testing properties of combinational circuits

机译：组合电路自测特性的形式验证
- 作者：Kawakubo;K.;Tanaka;K.
- 会议名称：《Test Symposium, 1996., Proceedings of the Fifth Asian》 | 1996年