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在半导体衬底材料接触区制作电接触的方法

摘要

在制造电接触(1)时,使用了多晶硅电极层(4),其边缘搭在与衬底(3)连接的绝缘物上,至少搭在边缘(52)的部分斜坡上。电极层(4)在腐蚀工艺中用做限定侧向边界的掩膜。于是,在电极层(4)的边缘下面形成一个框架形薄层(5),并露出与薄层(5)相邻的衬底(3)的接触区(2)。再淀积可以形成硅化物的金属层,其厚度小于薄层(5)的厚度。当加热形成硅化物后,没有与硅反应的金属,用选择性溶解金属腐蚀剂去除。

著录项

  • 公开/公告号CN86105085A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1987-03-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 德国ITT工业股份有限公司;

    申请/专利号CN86105085

  • 发明设计人 洛萨尔·布洛斯费尔德;

    申请日1986-08-13

  • 分类号H01L21/18;H01L21/82;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利代理部;

  • 代理人刘晖

  • 地址 联邦德国弗赖堡7800

  • 入库时间 2023-12-17 11:57:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1987-08-19

    申请的撤回

    申请的撤回

  • 1987-03-18

    公开

    公开

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