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绝缘衬底上混合源双面硅单晶生长

摘要

本发明是一种半导体器件及集成电路制造中的化学气相硅淀积工艺,其目的在于实现“单晶硅/绝缘材料/单晶硅”的半导体材料结构。其特点是该结构外延一次完成,生长速率快,单晶厚度均匀,质量好,设备简单,操作方便,对绝缘衬底无气相腐蚀,便于生产应用。

著录项

  • 公开/公告号CN86100027A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1987-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 吉林大学;

    申请/专利号CN86100027

  • 发明设计人 杨树人;汤广平;全宝富;

    申请日1986-01-06

  • 分类号C30B25/02;C30B25/22;

  • 代理机构吉林大学专利事务所;

  • 代理人杨德胜

  • 地址 吉林省长春市解放大路83号

  • 入库时间 2023-12-17 11:57:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1992-04-22

    视为撤回的专利申请

    视为撤回的专利申请

  • 1990-06-06

    实质审查请求

    实质审查请求

  • 1990-04-25

    其他有关事项恢复公告通知 原决定公告日:19900124 申请日:19860106

    其他有关事项恢复公告通知

  • 1990-01-24

    被视为撤回的申请

    被视为撤回的申请

  • 1987-07-15

    公开

    公开

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