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用于薄膜晶体管的高k栅极绝缘体

摘要

本公开内容的实施方式总体涉及一种层堆叠,所述层堆叠包括电介质层,所述电介质层具有高k值,能够改善半导体显示装置电气性能。在一个实施方式中,所述层堆叠包括基板、设置在所述基板上的沟道层、和栅极绝缘层。所述栅极绝缘层包括设置在所述沟道层上的界面层和设置在所述界面层上的二氧化锆层。所述栅极绝缘层具有范围为从约20至约50的k值。所述栅极绝缘层的所述高k值减小导致较高的能量势垒(energy barrier)的亚阈值摆幅(subthreshold swing,SS),这缓解了显示装置中的短沟道效应(short channel effect)和泄漏(leakage)。另外,所述栅极绝缘层的所述高k值允许较快的驱动电流,这改善了显示装置的亮度和性能。

著录项

  • 公开/公告号CN111557051A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN201880085213.5

  • 申请日2018-11-20

  • 分类号H01L29/786(20060101);H01L21/768(20060101);H01L21/3205(20060101);

  • 代理机构11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐金国;赵静

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 11:41:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    公开

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