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一种全MOSFET亚阈值带隙基准电压源

摘要

本发明属于模拟集成电路技术领域,具体为一种全MOSFET亚阈值带隙基准电压源,用以克服现有的基于亚阈值技术的低电压带隙基准电压源需要用到BJT或二极管、导致占用芯片面积较大的问题。本发明在全MOSFET条件下,PTAT电压产生电路与CTAT电压产生电路均采用由栅极、衬底及源极相接的PMOS管与二极管接法的PMOS管串联的结构;巧妙的通过调节PTAT电压产生电路与CTAT电压产生电路中作为亚阈值电流源的PMOS的沟道长度,从而调节PTAT电压产生电路与CTAT电压产生电路中栅漏电流的大小,使得PTAT电压产生电路产生PTAT电压,CTAT电压产生与PTAT电压温漂系数互补的CTAT电压,进而得到了全MOSFET的低电压、低功耗亚阈值带隙基准电压源。

著录项

  • 公开/公告号CN111158418A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010020223.X

  • 申请日2020-01-09

  • 分类号

  • 代理机构电子科技大学专利中心;

  • 代理人甘茂

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-12-17 08:47:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05F1/56 申请日:20200109

    实质审查的生效

  • 2020-05-15

    公开

    公开

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