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用于MEMS器件的晶片级焊料密闭密封包封的方法和设备

摘要

在衬底上形成多个MEMS器件,形成牺牲层以覆盖每一个MEMS器件,并在牺牲层上形成保护帽盖层。透过保护帽盖层到达下方牺牲层形成释放孔,并通过释放孔引入脱模剂以去除保护帽盖层下方的牺牲层并暴露出MEMS器件。释放孔被焊料密封,以形成MEMS器件的密闭密封。用于对释放孔进行密闭密封的方法包括:在所述器件的外表面的邻近所述开口的区域上形成润湿表面;以及将所述润湿表面浸入到粘性流体中以吸附足以覆盖并密闭密封所述开口的所述粘性流体的一部分。

著录项

  • 公开/公告号CN104039686A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 高通股份有限公司;

    申请/专利号CN201280066450.X

  • 发明设计人 T·Y·常;Y·潘;J·H·洪;C·U·李;

    申请日2012-11-09

  • 分类号B81C1/00(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人王英;陈松涛

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-12-17 02:19:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-28

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):B81C1/00 申请公布日:20140910 申请日:20121109

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C1/00 申请日:20121109

    实质审查的生效

  • 2014-09-10

    公开

    公开

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