首页> 中国专利> 用于外延层剥离后晶片重新利用的牺牲性蚀刻保护层

用于外延层剥离后晶片重新利用的牺牲性蚀刻保护层

摘要

本发明公开了一种生长结构,其包含生长基板、牺牲层、缓冲层、至少三个基板保护层、至少一个外延层、至少一个触点和金属或合金涂层的主体基板。在一种实施方式中,所述器件还包含至少3个器件结构保护层。所述牺牲层可以放置在所述生长基板与所述至少一个外延层之间,其中所述至少三个基板保护层被放置在所述生长基板与所述牺牲层之间,并且所述至少三个器件结构保护层被放置在所述牺牲层与所述外延层之间。本发明还公开了通过蚀刻所述牺牲层和所述保护层来释放所述电池结构以保护生长基板的完整性的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN103946973A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 密歇根大学董事会;

    申请/专利号CN201280032575.0

  • 申请日2012-06-28

  • 分类号H01L21/78;H01L31/18;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘慧

  • 地址 美国密歇根州

  • 入库时间 2023-12-17 01:44:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/78 申请公布日:20140723 申请日:20120628

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-08-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/78 申请日:20120628

    实质审查的生效

  • 2014-07-23

    公开

    公开

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