首页> 中国专利> 结合离子束表面活化溅射和反应离子刻蚀的黑硅制备工艺

结合离子束表面活化溅射和反应离子刻蚀的黑硅制备工艺

摘要

本发明公开了结合离子束表面活化溅射和反应离子刻蚀的黑硅制备工艺,解决现有的黑硅制备工艺复杂,刻蚀精度不高的问题。包括步骤:(1)将硅片置于真空室中;(2)用低能离子束均匀照射硅片,在硅片表面生成均匀的周期性纳米结构;(3)将在步骤(2)中经过照射后的硅片置于反应离子刻蚀真空室中,生成黑硅。本发明在整个制备黑硅的过程中能够把硅表面纳米结构形貌和黑硅层厚度这两个影响黑硅光反射特性的参数分别控制,进而可以事先设计黑硅表面纳米结构和黑硅层厚度,达到对黑硅结构进行优化以适合任何不同要求的目的;硅表面纳米结构和黑硅层厚度可人为灵活地控制,黑硅层的消耗小,刻蚀精度高,并且工艺过程简单,具有很大的实用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN104064502A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 余瑞琴;

    申请/专利号CN201410343579.1

  • 发明设计人 余瑞琴;

    申请日2014-07-18

  • 分类号H01L21/67;C23C14/46;

  • 代理机构成都顶峰专利事务所(普通合伙);

  • 代理人李崧岩

  • 地址 610000 四川省成都市锦江区华润路2号11栋2单元202号

  • 入库时间 2023-12-17 01:34:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20140718

    实质审查的生效

  • 2014-09-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号