首页> 外国专利> Carburation of silicon surfaces by a gas cluster ion beam, notably for the preparation of such surfaces for the integration of micro-electronic and opto-electronic devices by epitaxy

Carburation of silicon surfaces by a gas cluster ion beam, notably for the preparation of such surfaces for the integration of micro-electronic and opto-electronic devices by epitaxy

机译:气体团簇离子束对硅表面的渗碳,特别是用于制备通过外延将微电子和光电器件集成在一起的硅表面

摘要

Carburation of a silicon surface (6) consists of subjecting the surface to a beam of ions from a gaseous cluster, the ions coming from at least one condensable hydrocarbon.
机译:硅表面(6)的渗碳包括使该表面经受来自气态团簇的离子束,这些离子来自至少一种可冷凝的烃。

著录项

  • 公开/公告号FR2850400A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SOITEC;

    申请/专利号FR20030000976

  • 发明设计人 KERDILES SEBASTIEN;LETERTRE FABRICE;

    申请日2003-01-29

  • 分类号C23C14/48;C30B31/00;H01L21/265;H01L21/20;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 22:39:19

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号