首页> 中国专利> 一种高折射率氮化硅减反射膜的制作方法

一种高折射率氮化硅减反射膜的制作方法

摘要

本发明涉及一种高折射率氮化硅减反射膜的制作方法,其是在经过清洗制绒、扩散、刻蚀后的晶体硅片上表面依次镀一层折射率为2.10~2.15的高折射率氮化硅减反射膜、一层折射率为2.25~2.30的高折射率氮化硅减反射膜和再一层折射率为2.00~2.05的低折射率减反射膜而获得由三层氮化硅减反射膜组成的高折射率氮化硅减反射膜,其折射率为2.12~2.16。本发明制作的高折射率减反射膜,能满足电池组件抗PID的要求;而且,与传统高折射率减反射膜工艺相比,成品转换率提升0.05%以上,成品开路电压提升1mV,短路电流提升30mA左右。

著录项

  • 公开/公告号CN103606599A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江光隆能源科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201310622895.8

  • 发明设计人 朱金浩;

    申请日2013-11-30

  • 分类号H01L31/18(20060101);H01L31/0216(20140101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 314406 浙江省嘉兴市海宁市斜桥镇庆云洛塘路7号

  • 入库时间 2024-02-19 22:31:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L31/18 申请公布日:20140226 申请日:20131130

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/18 申请日:20131130

    实质审查的生效

  • 2014-02-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号