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一种用于制备GaN异质结场效应晶体管的外延结构及生长方法

摘要

本发明涉及半导体材料外延生长领域,公开了一种用于制备GaN异质结场效应晶体管的外延结构及生长方法。其外延结构由下至上依次包括衬底、应力缓冲层、高阻GaN外延层、新型插入层、非掺杂GaN沟道层和异质结势垒层,新型插入层包括一层P型掺杂GaN插入层和一层N型掺杂GaN插入层。本发明材料结构直接采用一层P型掺杂GaN和一层N型掺杂GaN组成的掺入层作为新型插入层,实现了一种用于制备高迁移率,低关态漏电流,超高开关比的GaN异质结场效应晶体管器件的新型外延结构。

著录项

  • 公开/公告号CN103560146A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中山大学;

    申请/专利号CN201310519287.4

  • 申请日2013-10-29

  • 分类号H01L29/20;H01L21/205;

  • 代理机构广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人林丽明

  • 地址 510275 广东省广州市新港西路135号中山大学

  • 入库时间 2024-02-19 22:27:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-23

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/20 申请公布日:20140205 申请日:20131029

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/20 申请日:20131029

    实质审查的生效

  • 2014-02-05

    公开

    公开

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