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无掺杂的L形隧穿场效应晶体管及其制备方法

摘要

本发明公开了一种无掺杂的L形隧穿场效应晶体管及其制备方法,主要解决现有器件关态电流大,双极效应严重和制备成本高的问题,其包括:SOI衬底(1)、异质栅介质层(5)、金属层(6)和导电层(8);SOI衬底的两侧设有隔离槽(2);SOI衬底的上表面设有源区(3)、沟道区(4)和漏区(7);异质栅介质层和金属层位于沟道区的上侧;源区、沟道区和漏区,均采用非掺杂的本征材料;栅介质层采用异质栅介质,且靠近源区一侧采用高K介质材料,靠近漏区一侧采用低K介质材料;金属层设为功函数不同的上下两层,这两层金属之间用二氧化硅隔离。本发明降低了关态电流,抑制了双极效应,节约了制作成本,可用于大规模集成电路的制作。

著录项

  • 公开/公告号CN109935631A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201910224881.8

  • 申请日2019-03-24

  • 分类号H01L29/423(20060101);H01L29/49(20060101);H01L29/51(20060101);H01L29/10(20060101);H01L29/16(20060101);H01L29/739(20060101);H01L21/28(20060101);H01L21/331(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华;朱红星

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2024-02-19 11:41:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/423 申请日:20190324

    实质审查的生效

  • 2019-06-25

    公开

    公开

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