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基于改变光纤FP尾纤端面平整度增加传感测量精度方法

摘要

本发明属于光纤传感器测量领域,公开基于改变光纤FP尾纤端面平整度增加传感测量精度方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,利用氢氟酸、光纤熔接机、宽带光源、光谱分析仪和单模光纤制作全光纤FP传感器系统;步骤2,将氢氟酸腐蚀过的单模光纤与另一个端面切平的单模光纤利用光纤熔接机熔接放电法制得第一全光纤FP腔,并测得其光谱图以及应变灵敏度;再将第二全光纤FP腔另一尾纤切平端掐断,并测其光谱图以及应变灵敏度;步骤3,将未切平的所述第一全光纤FP腔传感器(1)和切平的另一所述第二全光纤FP腔传感器(2)反射谱的对比度以及应变灵敏度分别进行对比,测量完毕。该方法的全光纤FP具有结构简单,体积小,无需额外成本的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN109883457A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京信息科技大学;

    申请/专利号CN201910139235.1

  • 申请日2019-02-25

  • 分类号G01D5/26(20060101);G01N21/55(20140101);G01B11/16(20060101);

  • 代理机构11468 北京市科名专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人陈朝阳

  • 地址 100085 北京市海淀区清河小营东路12号

  • 入库时间 2024-02-19 10:55:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D5/26 申请日:20190225

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    公开

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