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【2h】

A 2004 Time-resolved measurements of self-heating in SOI and strained-silicon MOSFETs using photon emission microscopy

机译：2004年使用光子发射显微镜对SOI和应变硅MOSFET中的自发热进行时间分辨测量

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Stas Polonsky; Keith A. Jenkins; Senior Member;
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年度 2011
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