机译:楔形样品上反射垂直入射型椭圆形测定光轴和光学性质的测定
机译:双轴吸收材料的广义椭圆偏振法:Sb2S3的晶体取向和光学常数的测定
机译:TlGa_xIn_(1-x)Se_2层混合晶体(0.5≤x≤1)的光学性质,通过椭圆偏振光谱,透射和反射测量
机译:单轴晶体的反射椭圆仪
机译:椭圆偏振光谱法和干涉显微镜法测定薄吸收层的光学性质
机译:半导体的光谱椭偏和反射差异各向异性研究:光学性质测量和建模。
机译:椭圆偏振法在透明表面上薄膜的光学性质;接近临界角的覆膜表面的内部反射
机译:对称取向下单轴晶体反射椭圆形测量的非线性方程的反演
机译:单轴结晶材料光轴方向的确定