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王润;
上海机械学院精密仪器研究所;
薄膜; 厚膜; 厚度; 测量; 大规模集成电路;
机译:在相同入射角下对p偏振和s偏振光具有零反射的裸露和薄膜涂层基板:反射率和椭偏参数与基板折射率和膜厚有关
机译:低入射角光谱椭偏法精确测定织构的SnO_(2)的光学常数
机译:光谱椭偏仪,光谱反射仪和光谱成像反射仪对厚度不均匀的SiO_xC_yH_z薄膜的光学表征
机译:可变入射角光谱椭偏仪测定带隙下单轴介电函数的研究
机译:使用原位椭偏仪在快速热处理中测量和控制硅片温度和氧化膜厚度。
机译:银纳米薄膜表面等离激元的厚度色散:透射法迭代椭偏法测定。
机译:红外光谱椭偏法测定的n型,p型和补偿型InN:Mg的自由载流子参数
机译:椭偏法同时测定极薄膜的折射率和厚度
机译:不带辅助设备的椭偏仪和椭偏仪的入射角精确自动对准方法
机译:椭偏测定。多层样品的连续层的材料参数的确定-通过连续去除层,连续椭偏测量以及厚度,折射率和吸收系数的计算。从测试值
机译:多重AOI系统,可轻松改变椭偏仪,旋光仪和反射仪系统中的入射角
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