4H-SiC; anisotropic dielectric function; birefringence; brewster angle; spectroscopic ellipsometry (SE); uniaxial material;
机译:X射线光电子谱对Si的HFO 2薄膜研究,Rutherford反向散射,放牧入射X射线衍射和可变角度光谱椭圆形测定法
机译:椭圆偏振光谱法研究锰掺杂Bi3.25La0.75Ti3O12薄膜的介电性能和能带隙变化
机译:GaAsN / GaAs(001)中价带扰动的证据:可变角度椭圆偏振光谱法和调制光反射研究的结合
机译:各向异性单轴薄膜中变角光谱椭圆仪的新方法:应用于非线性光学取向聚合物
机译:宽带隙半导体材料的椭圆偏振光谱研究。
机译:具有高表面粗糙度的薄膜:使用椭圆偏振光谱仪进行厚度和介电函数分析
机译:GaasN / Gaas(001)中价带扰动的证据:a组合 可变角度光谱椭偏仪和调制光反射率 调查