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何振江; 杨冠玲; 黄佐华; 张成云;
华南师范大学物理系,广东,广州,510631;
纳米薄膜; 厚度测量; 椭圆偏振;
机译:测量各向同性和各向异性薄膜有效椭偏参数的偏振扫描椭偏法
机译:通过椭偏测量确定弯曲基板上的薄膜厚度
机译:椭偏数据采集实时测量薄膜厚度的方法
机译:改进OTTO构型结合椭偏法测量表面等离子体共振的薄膜厚度
机译:使用原位椭偏仪在快速热处理中测量和控制硅片温度和氧化膜厚度。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:用于生物传感和(光电)电子应用的纳米颗粒结构和薄膜的椭偏模型=用于生物和(光电)电子应用的纳米颗粒结构和薄膜的椭偏模型
机译:椭偏法同时测定极薄膜的折射率和厚度
机译:椭偏分析仪,样品椭偏分析方法和薄膜厚度变化量测量
机译:椭偏分析仪,椭偏分析仪,用于测量样品,测量薄层厚度变化的方法。
机译:椭偏分析设备,样本椭偏分析方法,以及用于测量薄层厚度变化的设备
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