Auger spectroscopy; Energy spectra; Least squares method; Spectrum analysis; Fitting; Digital filters; Electron spectroscopy; X ray spectroscopy;
机译:扫描俄歇显微镜直接测定单半导体纳米岛中元素组成的3D分布
机译:通过直接同时拟合用DCMU在不同光强度下测量的几条荧光上升曲线来确定Photosystem II的天线异质性
机译:通过直接同时拟合在不同光强度下用DCMU测量的几条荧光上升曲线来确定Photosystem II的天线异质性
机译:通过直接拟合CHIMERA4π多探测器中的数字化波形来确定CsI(Tl)闪烁时间常数和强度
机译:首次直接测量固态氧化锰,银和钯中各个俄歇级联步骤的能谱。
机译:扫描俄歇显微镜直接测定单半导体纳米岛中元素组成的3D分布
机译:扫描俄歇显微镜直接测定单半导体纳米岛中元素组成的3D分布