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Direct Determination of 3D Distribution of Elemental Composition in Single Semiconductor Nanoislands by Scanning Auger Microscopy

机译：扫描俄歇显微镜直接测定单半导体纳米岛中元素组成的3D分布

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1. Direct Determination of 3D Distribution of Elemental Composition in Single Semiconductor Nanoislands by Scanning Auger Microscopy [J] . Semyon S. Ponomaryov, Volodymyr O. Yukhymchuk, Peter M. Lytvyn, Nanoscale Research Letters . 2016,第1期

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2. Elemental and chemical microanalysis of silicon surfaces by reflected electron energy loss microscopy and scanning Auger microscopy [J] . E. Paparazzo Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena . 1995,第期

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3. Determination of titanium distribution on the catalyst surface of industrial supported Ziegler catalysts by means of scanning Auger electron microscopy [J] . Mori H., Terano M., Hasebe K. Macromolecular chemistry and physics . 1998,第12期

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4. Direct Measurement of Inhomogeneous Longitudinal Dopant Distribution in SiNWs Using Nano-Probe Scanning Auger Microscopy [C] . U. Givan, J. K. Hyun, E. Koren, MRS spring meeting . 2012

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5. Scanning tunneling microscopy of compound semiconductor heterostructures: From alloy ordering to composition determination. [D] . Liu, Ning. 2001

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6. Direct Determination of 3D Distribution of Elemental Composition in Single Semiconductor Nanoislands by Scanning Auger Microscopy [O] . Semyon S. Ponomaryov, Volodymyr O. Yukhymchuk, Peter M. Lytvyn, 2016

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8. Nanometer-Scale Compositional Structure in III-V Semiconductor Heterostructures Characterized by Scanning Tunneling Microscopy; Journal of Vacuum Science Technology A [R] . Allerman, A. A. , Bi, W. G. , Biefeld, R. M. , 1998

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