CRYSTAL DEFECTS; CRYSTAL GROWTH; CZOCHRALSKI METHOD; FLOAT ZONES; PURITY; SILICON; SWIRLING; WAFERS; ADDITIVES; DISLOCATIONS (MATERIALS); ETCHING; GERMANIUM; MAGNETIC FIELDS; STRIATION; THERMAL STRESSES;
机译:氮掺杂对FZ硅辐射缺陷中心性能的影响
机译:在FZ硅晶体生长过程中通过掺杂杂质产生和消除点缺陷
机译:质子辐照的FZ-硅单晶中点辐射缺陷的正电子探测
机译:在低温退火过程中有意污染的FZ硅中的缺陷转换
机译:碳化硅中缺陷中心的低温光致发光研究。
机译:注入碳离子的Cz和FZ硅晶体中氧配合物的结构和电学性质
机译:FZ硅晶体中的氢诱导缺陷