Ellipsometry; Germanium compounds; Silicon compounds; Spectroscopic analysis; Strain measurement; Superlattices; Thickness; Compressibility effects; Germanium; Layers; Optical thickness; Substrates; Tensile stress;
机译:Si(001)上的薄SiGe层的椭圆偏光光谱法表征了0至100%的Ge分数
机译:Ge分级的SiGe HBT的动态SIMS,椭偏光谱和X射线衍射分析
机译:SiGe和Si层的光学特性与椭圆偏振光谱测量法的比较
机译:Si /梯度-Si {sub}(1-x)ge {sub} x / si {sub}(1-x)ge}(1-x)ge×x异质结构通过光谱化学气相沉积使用光谱椭圆形测定的X / si}(1-x)X异质膜
机译:使用透明角和原子层沉积技术制造的异质结构超材料的晶状体性能,并使用有限元和光谱椭圆形测定方法分析
机译:使用红外光谱椭偏仪同时表征聚合物多层的物理化学和热学性质
机译:光谱椭偏仪表征高锗含量的硅锗异质结构和梯度合金层