Electron Collisions; Silicon; Tungsten; Silicon Oxides; Cross Sections; Elastic Scattering; Electron Capture; Energy Dependence; Inelastic Scattering; Momentum Transfer; Stopping Power; Silicon dioxide; EDB/640304; EDB/654001; EDB/656003;
机译:磷注入硅的电子结构和具有硅杂质的二氧化硅的量子点的高分辨率X射线光电子能谱和特征电子能损谱
机译:氧化硅中产生的电子陷阱的俘获截面和有效密度的评估
机译:通过显式关联方法获得的氢化硅和氟化硅的纯理论电子碰撞电离截面
机译:使用GEANT4-DNA工具箱模拟重离子径迹的硅中低能电子的无弹性截面
机译:含有H,B,C,N,O,F,Si,P,S和CL的分子的总电子散射横截面在0.1-6.0 keV中
机译:使用钨氧化铝和二氧化硅纳米粒子改性形状记忆聚合物泡沫
机译:蒽在较宽的能量范围内(0.00001-10,000eV)的电子散射截面