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Selective Modulation Interferometric Spectrometer (SIMS) Technique Applied to Background Suppression

机译：选择性调制干涉光谱仪（sIms）技术在背景抑制中的应用

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作者
Vanasse, G. A.; Esplin, R. W.; Huppi, R. J.;
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作者单位

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年度 1978
页码 p.1-8
总页数 8
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
Signal processing; Fourier spectrometers; Interferometry; Target detection; Reprints;

机译：信号处理;傅立叶光谱仪;干涉测量;目标检测;重印;

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