机译:n型CdMgSe混合晶体中少数载流子复合寿命的光热红外辐射测定
II–VI semiconductors; CdMgSe mixed crystals; minority carrier diffusion length; minority recombination lifetime; photothermal radiometry.;
机译:n型CdMgSe混合晶体中少数载流子复合寿命的光热红外辐射测定
机译:红外半透明n型CdMgSe混合晶体中通过光热辐射法测得的霍尔载流子浓度与有效吸收系数之间的线性关系
机译:根据通过光热红外辐射法测得的有效红外吸收系数确定CdSe晶体中的载流子浓度
机译:通过连续Czochralski技术生产的N型单晶硅少数型载体寿命及其对异结太阳能电池的影响
机译:使用激光红外光热辐射法测量半导体硅晶片中的载流子密度波深度轮廓图。
机译:用于非接触氧化过程表征和炉分析的少数载流子寿命测量
机译:根据通过光热红外辐射法测得的有效红外吸收系数确定CdSe晶体中的载流子浓度
机译:n型弥漫性皮肤中少数载体寿命的测量