...
机译:FIB制备样品的指南,该样品包含用于TEM和原子探针分析的应力腐蚀裂纹尖端
FIB; SCC; Crack tip; Micromanipulator; TEM; Atom-probe;
机译:FIB制备样品的指南,该样品包含用于TEM和原子探针分析的应力腐蚀裂纹尖端
机译:基于FIB的新型样品制备技术,用于超薄栅氧化物击穿的TEM分析
机译:基于FIB的新型样品制备技术,用于超薄栅氧化物击穿的TEM分析
机译:使用FIB制备奥氏体合金中包含应力腐蚀裂纹的TEM标本
机译:用于TEM分析的碳纳米管复合样品制备的切片机切割工艺的改进。
机译:腐蚀产物膜引起的应力促进应力腐蚀开裂
机译:使用FIB在TEM样品制备期间保留掩埋空隙和裂缝的原位方法
机译:HYGas试验工厂316型不锈钢水和气体采样管中氯离子辅助应力腐蚀开裂:失效分析报告