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公开/公告号CN109900929B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-03
原文格式PDF
申请/专利权人 南京理工大学;
申请/专利号CN201910205111.9
发明设计人 靳慎豹;吴修婷;陈雪涵;刘畅;胡蓉;沙刚;
申请日2019-03-18
分类号G01Q30/20(20100101);
代理机构32203 南京理工大学专利中心;
代理人邹伟红
地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号
入库时间 2022-08-23 12:25:19
机译: 通过FIB制造用于原子探针分析的样品的方法以及实现该样品的聚焦离子束设备
机译: FIB制造原子探针分析用样品的方法及实施该方法的聚焦离子束装置
机译: 用于三维(3D)半导体器件的原子探针层析成像样品制备
机译:原子探针基于FIB的样品制备方法综述
机译:FIB制备样品的指南,该样品包含用于TEM和原子探针分析的应力腐蚀裂纹尖端
机译:双束SEM / FIB铣床制备原子探针样品
机译:双光束FIB铣床制备原子探针样品
机译:具有感兴趣的平面区域的原位原子探针样品制备
机译:基于溶液的碳纳米管修饰原子力显微镜探针的制备方法
机译:基于FIB的位点特异性原子探针样品制备技术的最新进展
机译:用于在原子探针场离子显微镜中检查的辐照材料的样品制备