机译:用拉曼光谱和有限元方法表征4H-SiC金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)
Stress characterization; Raman spectroscopy; Finite element method; 4H-SiC metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET); Silicon dioxide films;
机译:用拉曼光谱和有限元方法表征4H-SiC金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)
机译:利用极化紫外拉曼光谱测量和校准技术-计算机辅助设计仿真对硅金属氧化物半导体场效应晶体管结构进行机械应力评估
机译:阴极发光光谱,拉曼光谱和有限元方法评估的浅沟槽隔离结构的纳米应力场评估
机译:两步渗氮抑制带有门氧化氮的亚微米金属氧化物-半金属半导体场效应晶体管(MOSFET)中的等离子体充电损伤
机译:砷化铟镓金属氧化物半导体场效应晶体管的表征。
机译:基于金属氧化物半导体场效应晶体管的库尔特计数器的实验表征
机译:GaN导向器中的热机械应力焊接到使用有限元方法和拉曼光谱研究的Cu基板上
机译:功率金属氧化物半导体场效应晶体管(mOsFET)的单粒子效应(sEE)