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机译:大O-2簇离子作为TOF-SIMS的溅射梁,薄SiO2薄膜中的碱金属深度分析
Infineon Technol Austria AG Siemensstr 2 A-9500 Villach Austria;
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ION TOF GmbH Heisenbergstr 15 D-48149 Munster Germany;
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Vienna Univ Technol Inst Chem Technol &
Analyt Getreidemarkt 9 A-1060 Vienna Austria;
机译:大O-2簇离子作为TOF-SIMS的溅射梁,薄SiO2薄膜中的碱金属深度分析
机译:C_(60)簇离子束轰击在有机-无机杂化多层薄膜溅射深度分析中的作用
机译:使用氩簇溅射深度剖析对聚合物多层膜进行3D ToF-SIMS成像
机译:使用原位样品制备方法显着提高多晶薄膜俄歇溅射深度剖析中的深度分辨率
机译:使用ToF-SIMS和簇离子束进行分子深度分析和楔形坑斜切
机译:TOF-SIMS有机薄膜的深度分析:单光束和双光束分析之间的比较
机译:聚合物簇膜的3D ToF-SIMS成像,使用氩簇溅射深度分布