C60 Bi cluster beams molecular depth profiling chemical damage dual beam co-sputtering;
机译:ToF-SIMS深度剖析有机膜:单光束和双光束分析的比较
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机译:使用TOF-SIMS的低能量双光束深度分析的测量条件对深度分辨率的影响
机译:通过双光束TOF-SIMS与模拟相结合的SIO_2 / SIC接口的Sub-nm的深度分辨率分析
机译:使用ToF-SIMS和簇离子束进行分子深度分析和楔形坑斜切
机译:TOF-SIMS深度分析海藻糖:分析梁剂量对深度剖面质量的影响
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