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Design of sub-1-V CMOS bandgap reference circuit using only one BJT

机译:仅使用一个BJT的1V以下CMOS带隙基准电路的设计

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摘要

This paper describes new CMOS bandgap reference (BGR) circuits capable of providing sub-1-V voltage reference while using only one BJT. The circuits use the concept of reverse bandgap voltage principle (RBVP) to generate attenuated versions of the silicon bandgap voltage of 1.205 V. Also, as opposed to the previously known sub-1-V BGR by Banba et al. (IEEE J Solid State Circuits 34:670-674, 1999), the circuits can be operated with lower supply voltage down to a 1.3 V supply. Based on the scheme, a 550 mV BGR is implemented in 65 nm CMOS process, with peak-to-peak variation of 7.19 mV across devices corners, temperature range of -20 to 80° and supply range of 1.6-2.0 V.
机译:本文介绍了新型CMOS带隙基准(BGR)电路,该电路能够在仅使用一个BJT的情况下提供低于1V的电压基准。这些电路使用反向带隙电压原理(RBVP)的概念来生成1.205 V的硅带隙电压的衰减版本。此外,与Banba等人先前已知的sub-1-V BGR相反。 (IEEE J Solid State Circuits 34:670-674,1999),这些电路可以在低至1.3 V电源的较低电源电压下工作。基于该方案,在65 nm CMOS工艺中实现了550 mV BGR,跨器件角点的峰峰值变化为7.19 mV,温度范围为-20至80°,电源范围为1.6-2.0V。

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