菊池パターンの解析支援プログラム

摘要

よく知られているように，菊池（Kikuclli）パターンは1928年菊池正土樽士により報告された結晶による電子の回折三睨象の1つである．透過電子顕微鏡（TEM）で観察される菊池パターンは，結晶性試料内で広角に非弾性散乱された電子が再び結晶で回折されることにより形成される．通常の回折が斑点として現れるのとは異なり，菊池パターンは結晶内の格子両に対応した新也楓あるいは（柚J）と（方肩）の一対の菊池線で囲まれた菊池バンドで構成される．菊池線の出現位置は結晶方位とBrとIggの式より幾何学的に求められるが，そのコントラストは厳密には動力学的計算でのみ説明することができる．電子顕微鏡を用いた研究のなかで，卿也パターンは試料の結晶方位や入射電子の波長の正価な決定に非常に有川であるが，その他にはそれほどの特筆すべき応用をされてこなかったと言えるであろう．しかしながらこの状況は億近大きく変わってきている．それは電子後方散乱回折（Electron Back－Scattering Diffraction：EBSD）と呼ばれる走査電子顕微銃（SEM）における測定手法が急速に普及し，菊地パターンの重要な応用として拡がりつつあるからである．